8417 записей
В. В. Путин. Избранные речи и выступления. - М. : Книжный мир, 2008. - 471 с. - ISBN 978-5-8041-0299-0 .
Вавилов В. Д., Тимошенков С. П., Тимошенков А. С.
Микросистемные датчики физических величин: монография в двух частях / Вавилов В. Д., Тимошенков С. П., Тимошенков А. С. - М. : Техносфера, 2018. - 549 с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр.в конце ч. - ISBN 978-5-94836-498-8 .
Микросистемные датчики физических величин: монография в двух частях / Вавилов В. Д., Тимошенков С. П., Тимошенков А. С. - М. : Техносфера, 2018. - 549 с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр.
Вайнберг С.
Квантовая теория поля : пер. с англ. / Вайнберг С. ; ред. Жуковский В. Ч. - М. : Физматлит, 2015.
Т. 1 : Общая теория / пер. с англ. Уржумов Я. А., Усманов Р. А., Подольский Д. И., Любшин Д. С. - 2015. - 648 с. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-9221-1620-6 .
Квантовая теория поля : пер. с англ. / Вайнберг С. ; ред. Жуковский В. Ч. - М. : Физматлит, 2015.
Т. 1 : Общая теория / пер. с англ. Уржумов Я. А., Усманов Р. А., Подольский Д. И., Любшин Д. С. - 2015. - 648 с. - Библиогр.
Вайц Е. В., Грачёва Ю. В.
Разработка комплекса организационных и технических мероприятий по защите информации от утечки по техническим каналам на объекте информатизации : методические указания к выполнению курсовой работы / Вайц Е. В., Грачёва Ю. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 15 с. : ил. - Библиогр.в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4556-1 .
Разработка комплекса организационных и технических мероприятий по защите информации от утечки по техническим каналам на объекте информатизации : методические указания к выполнению курсовой работы / Вайц Е. В., Грачёва Ю. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 15 с. : ил. - Библиогр.
Вакс Е. Д., Миленький М. Н., Сапрыкин Л. Г.
Практика прецизионной лазерной обработки / Вакс Е. Д., Миленький М. Н., Сапрыкин Л. Г. - М. : Техносфера, 2013. - 695 с., [12] с. ил. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с. 23, в конце разделов, с. 695 . - ISBN 978-5-94836-339-4 .
Практика прецизионной лазерной обработки / Вакс Е. Д., Миленький М. Н., Сапрыкин Л. Г. - М. : Техносфера, 2013. - 695 с., [12] с. ил. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
Вакуумная техника : справочник / Демихов К. Е., Панфилов Ю. В., Никулин Н. К. [и др.] ; общ. ред. Демихов К. Е., Панфилов Ю. В. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Машиностроение, 2009. - 589 с. : ил. - Библиогр.: с. 579-581 . - ISBN 978-5-94275-436-5 .
Валиков В. И.
Методические указания по выполнению КНИР для студентов специальности "Проектирование и производство летательных аппаратов". - 1985. -14 с . - Под редакцией А. М. Савинова.
Методические указания по выполнению КНИР для студентов специальности "Проектирование и производство летательных аппаратов". - 1985. -
Валишин А. А., Сальникова А. А.
Основы комбинаторики в примерах и задачах : учебно-методическое пособие / Валишин А. А., Сальникова А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2024. - 95 с. : рис., табл. - Библиогр.в конце кн. - ISBN 978-5-7038-6304-6 .
Основы комбинаторики в примерах и задачах : учебно-методическое пособие / Валишин А. А., Сальникова А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2024. - 95 с. : рис., табл. - Библиогр.
Вальтер А. И., Протопопов А. А.
Основы литейного производства : учебник / Вальтер А. И., Протопопов А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2019. - 330 с. : рис., табл. - Библиогр.:с. 320 . - ISBN 978-5-9729-0363-4 .
Основы литейного производства : учебник / Вальтер А. И., Протопопов А. А. - М. ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2019. - 330 с. : рис., табл. - Библиогр.:
Валянский С. И., Наими Е. К.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / Валянский С. И., Наими Е. К. ; ред. Капуткин Д. Е. ; Министерство образования и науки РФ, Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС", Кафедра физики. - М. : Издат. Дом МИСиС, 2011. - 172 с. : ил. - Библиогр.:с. 152-159 . - ISBN 978-5-87623-460-5 .
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / Валянский С. И., Наими Е. К. ; ред. Капуткин Д. Е. ; Министерство образования и науки РФ, Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС", Кафедра физики. - М. : Издат. Дом МИСиС, 2011. - 172 с. : ил. - Библиогр.: