Личный кабинет
Подробное описание документа
Кларк Э.
Микроскопические методы исследования материалов : пер. с англ. / Кларк Э., Эберхардт К. Н. ; РАН. Ин-т синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова ; пер. Баженов С. Л. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.:
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оп-тические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения,что появилась потребность в книге,описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов.
В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические — например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Книга будет полезна ученым,специалистам в области материаловедения, аспирантам.
