Подробное описание документа

Вишнякова С. М., Вишняков В. И.
   Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом : метод. указания к лаб. работе О-7 по курсу общей физики / Вишнякова С. М., Вишняков В. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2014. - 29 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-3832-7.

Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана

https://press.bmstu.ru/catalog/item/194/

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде.
Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Баумана.