Подробное описание документа

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы. - М., 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.: л. 299-321.

library.bmstu.ru/Catalog/Details/416746

https://library.bmstu.ru/Catalog/Details…