Подробное описание документа

Семенцов С. Г., Гриднев В. Н., Сергеева Н. А.
   Тепловизионные методы оценки влияния температурных режимов на надежность электронной аппаратуры / Семенцов С. Г., Гриднев В. Н., Сергеева Н. А. - DOI 10.18698/0236-3933-2016-1-3-14 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2016. - № 1. - С. 3-14.

library.bmstu.ru/Catalog/Details/445244

https://library.bmstu.ru/Catalog/Details…

Рассмотрены методы оценки температурных режимов и их влияние на надежность электронной аппаратуры. Проведен анализ отказов элементов, возникающих вследствие нарушения теплового режима, показаны возможные причины их возникновения. Продемонстрирована применимость методов бесконтактной тепловизионной диагностики для выявления скрытых дефектов, приводящих к нарушениям теплового режима и к параметрическим или внезапным отказам в элементах электронной аппаратуры.