Подробное описание документа

Загидуллин Р. Ш.
   Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : метод. указания к выполнению лаб. практикума / Загидуллин Р. Ш. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 140 с. : ил. - ISBN 978-5-7038-4423-6.

Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана

https://press.bmstu.ru/catalog/item/4256/

Изложены особенности проведения лабораторных исследований свойств полупроводниковых диодов, моделирования стендов для исследования. Рассмотрено взаимодействие программ схемотехнического моделирования MicroСap и программ математической обработки экспериментальных данных. Приведены особенности проведения экспериментов для расчета моделей полупроводниковых диодов.
Для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Радиоэлектронные системы и комплексы". Может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании.