Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Калужский филиал

Подробное описание документа

Фотография обложки

Назина О. Е.
   Баг-трекинг: локализация и оформление дефектов / Назина О. Е. - СПб. : БХВ-Петербург, 2024. - 349 с. : ил. - ISBN 978-5-9775-1915-1.

library.bmstu.ru/Catalog/Details/581155

Подробно раскрываются темы о локализации дефектов, правилах и приёмах оформления описаний выявленных ошибок и исправлений. Приведены паттерны и антипаттерны обоснования задач. Описаны инструменты баг-трекинга и процесс отслеживания ошибок. Рассказано о методах ретроспективного анализа ошибок. Рассмотрен жизненный цикл (Workflow) задач. Приведено множество примеров локализации ошибок, оформления дефектов и задач, даны рекомендации по составлению описаний.
Для тестировщиков ПО и специалистов технической поддержки.

Похожие издания

Назина О. Е.
   Баг-трекинг: локализация и оформление дефектов. / Назина О. Е. - Санкт-Петербург : БХВ-Петербург, 2024. - 352 с. - ISBN 978-5-9775-1915-1.
ЭБС «Айбукс»