Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Калужский филиал

Подробное описание документа

   Статья в журнале

   Причинный анализ запутанных состояний в томографическом представлении квантовой механики / Киктенко Е. О., Коротаев С. М., Федоров А. К., Юрченко С. О. - DOI 10.18698/2308-6033-2012-5-207 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2012. - № 5. - П.н. 28.

library.bmstu.ru/Catalog/Details/598646

В основе квантового причинного анализа, являющегося эффективным методом исследования асимметричных запутанных состояний, лежит использование энтропий фон Неймана. В данной работе рассмотрено построение причинного анализа, который базируется на томографических энтропиях. Квантовые томограммы представляют собой неотрицательные функции распределения вероятностей, получаемые в ходе эксперимента. В качестве примера использования томографического квантового причинного анализа исследованы чистое максимально запутанное и смешанное асимметричное состояния. Получена связь между исходным направлением причинности и направлением квантово-томографической причинности.