Личный кабинет
Подробное описание документа
Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : практикум / Барабанов В. Ф., Тюрин С. В., Гребенникова Н. И. [и др.]. - Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. -
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».
