Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Калужский филиал
Личный кабинет
Расширенный поиск по каталогам
Поиск электронных учебников

Подробное описание документа

Фотография обложки

В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А. Г. Миронов.
   Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках / В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А. Г. Миронов. - Москва : Государственное издательство физико-математической литературы, 1972. - 415 с.

Университетская библиотека онлайн
ЭБС «Университетская библиотека ONLINE»
© НТБ МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2003 – 2026
© МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2003 – 2026
Политика обработки и защиты персональных данных

Используя сайт Библиотеки МГТУ им. Н. Э. Баумана, Вы соглашаетесь с использованием технических файлов (cookie) и сервисов сбора и анализа статистики посещений для обеспечения работоспособности сайта и улучшения качества обслуживания. Подробнее о технических файлах (cookie).