Личный кабинет
Подробное описание документа
А. Б. Рожнов, В. Ю. Турилина
Патентные исследования. Анализ патентной ситуации : учебное пособие / А. Б. Рожнов, В. Ю. Турилина ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Кафедра металловедения и физики прочности, Лаборатория гибридных наноструктурных материалов. - Москва : МИСиС, 2015. -
В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации.Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска.Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники.Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору № 14.А12.31.0001 от 24.06.2013 г.
